Сервисные услуги ЦКП ИОХ и приглашение к сотрудничеству

ЯМР-спектроскопия, Масс-спектрометрия, Сканирующая электронная микроскопия

Полный спектр услуг современной аналитической лаборатории: ЯМР-спектры, масс-спектры и микроскопия для Ваших объектов.
Качественный и количественный анализ на приборах новейшего поколения.
Консультации экспертов и готовые решения.

Преимущества работы ЦКП ИОХ:

Быстрое оформление договоров без длительной бюрократической волокиты.
Работа в рамках договоров с институтами, университетами, компаниями, предприятиями, заводами и опытными производствами.
Возможность заключения долговременных договоров для полного физико-химического обслуживания конкретной лаборатории (научной группы) или всего института/факультета сроком на 0.5 — 3 года.
Проведение экспресс-анализов без заключения договора (по счету), срок оформления — 2-3 рабочих дня.
Представление результатов измерений в электронном виде (по e-mail) в течение 1 часа по окончании измерений.
При необходимости, участие ЦКП ИОХ в конкурсах и тендерах для обеспечения организаций физико-химическими измерениями.

Аналитические измерения: Выполнение аналитических работ на заказ по регламенту и требованиям заказчика, реализация стандартных измерений, разработка новых измерительных методик и проведение комплексных измерений несколькими методами.

Научные исследования: Обеспечение аналитической поддержки в области химии, биологии, биохимии, фармакологии, материаловедения и нанотехнологий. Выполнение работ в рамках НИР и НИОКР.

Обучение: Подготовка "с нуля" и повышение квалификации специалистов современным аналитическим методам. Тренинги и мастер-классы.

Оборудование:

Спектрометры ЯМР высокого разрешения со сверхпроводящими магнитами с рабочей частотой 300, 400, 500 и 600 МГц.
Масс-спектрометры с ионизации электрораспылением ESI-MS в режиме высокого разрешения HR-ESI-MS и ультравысокого разрешения UHR-TOF.
Сканирующая (растровая) электронная микроскопия с холодным катодом в режиме полевой эмиссии FE-SEM и разрешением 1 нм.

Объекты измерений:

Органические молекулы, элементоорганические и металлоорганические соединения, полимеры, природные соединения, биологически-активные молекулы, лекарственные препараты, наноматериалы (металлы, композитные материалы, нанотрубки, графен и др.), наночастицы (катализаторы, носители и др. ), клетки, ткани, растительное сырье, биологические объекты. Другие объекты исследования по запросу заказчика.

Сферы приложения:

Установление структуры веществ
Подтверждение идентичности и определение степени чистоты веществ
Анализ смесей веществ
Определение размеров и морфологии наночастиц и микрочастиц
Анализ сложных многокомпонентных материалов
Определение трехмерного строения молекул и конформационный анализ
Исследование динамических процессов
Измерение скоростей химических реакций и определение констант равновесия
Создание баз данных и Интернет ресурсов по результатам аналитических измерений
Регистрация спектров ЯМР на ядрах 1H, 11B, 13С, 15N, 19F, 29Si, 31P, 77Se, 195Pt, и др., включая двумерные методики COSY, NOESY, ROESY, TOCSY, HSQC, HMQC, HMBC, и др.
Регистрация масс-спектров в заданном интервале m/z, анализ пиков в режиме высокого разрешения и математическая обработка
Характеризация методом сканирующей электронной микроскопии в режимах малого, среднего и большого увеличения

Общий перечень услуг

ЯМР-спектроскопия

¹Н спектр ЯМР (на приборе с рабочей частотой до 500 МГц ¹Н)
¹³С, ¹⁹F, ³¹Р спектр ЯМР (на приборе с рабочей частотой до 500 МГц ¹Н)
Одномерный спектр ЯМР на других ядрах (на приборе с рабочей частотой до 500 МГц ¹Н)
Двумерный спектр ЯМР (на приборе с рабочей частотой до 500 МГц ¹Н)
¹Н спектр ЯМР (на приборе с рабочей частотой 600 МГц ¹Н)
¹³С, ¹⁹F, ³¹Р спектр ЯМР (на приборе с рабочей частотой 600 МГц ¹Н)
Одномерный спектр ЯМР на других ядрах (на приборе с рабочей частотой 600 МГц ¹Н)
Двумерный спектр ЯМР (на приборе с рабочей частотой до 600 МГц ¹Н)
Экспертный анализ спектров ЯМР

Масс-спектрометрия

Масс-спектр высокого разрешения на приборе ESI-TOF
Масс-спектр на приборе ультравысокого разрешения UHR-TOF
Математический расчет масс-спектров по заданной формуле и наложение на экспериментальный спектр
Экспертный анализ масс-спектров

Электронная микроскопия

Регистрация изображений для проводящих объектов с ускоряющим напряжением 3-10 кВ
Регистрация изображений для непроводящих объектов с ускоряющим напряжением 0.5-2 кВ
Регистрация изображений для чувствительных объектов в режиме торможения электронов (deceleration)
Регистрация изображений на разных детекторах
Графическая обработка и оптимизация изображений
Статистическая обработка изображений
Экспертный анализ изображений

Большое количество других методик и измерений по запросу.