Оборудование ЦКП

ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ОБОРУДОВАНИЯ

Масс-спектрометр ион-циклотронного резонанса с Фурье-преобразованием (FT-ICR-MS) solariX XR 15T, Bruker, Германия

Год выпуска – 2019

Назначение

- Анализ сложных смесей методом масс-спектрометрии сверхвысокого разрешения: без разделения или с предварительным хроматографическим разделением (ГЖХ/ВЭЖХ).

- Точное и надежное определение элементного состава на основе рутинной оценки тонкой изотопной структуры, невидимой для большинства других масс-анализаторов.

- Уникальные исследования в метаболономике, протеомике, молекулярной визуализации, в анализе реакционных смесей, углеводородов (петролеомика), продуктов питания, биомассы.

- Решение фундаментальных и прикладных задач в органической и элементоорганической химии, фармакологии, нефтехимии, науках об окружающей среде и др.

Благодаря уникальным техническим характеристикам FT-ICR-MS предоставляет ранее недоступные возможности для анализа и структурных исследований многокомпонентных смесей которые невозможно разделить с помощью потоковых методов.

Технические характеристики

- Регистрация масс-спектров с ионизацией при атмосферном давлении или МАЛДИ в диапазоне масс от m/z 50 до 10 000 с разрешением до 10 000 000.

- Двойной ионный источник с различными режимами ионизации: ионизация электрораспылением (ИЭР), химическая ионизация при атмосферном давлении (ХИАД), фотоионизация при атмосферном давлении (ФИАД), матрично-активируемая лазерная десорбция/ионизация (МАЛДИ).

- Широкий спектр доступных режимов фрагментации: распад внутри источника (ISD), диссоциация, индуцируемая соударением (CAD), устойчивое нерезонансное облучение-CAD (SORI-CAD), непрерывное накопление выбранных ионов-CAD (CASI-CAD), диссоциация, индуцируемая соударением в квадруполе (qCAD), диссоциация про захвате электрона (ECD).

- Сочетание с хроматографическими методами: высокоэффективная жидкостная хроматография (ВЭЖХ-МС) и газовая хроматография (ГХ).

Метрологическое обеспечение

Калибровка прибора с помощью раствора трифторацетата натрия (0.1 мг/мл в смеси ацетонитрил/вода в отношении 50/50), обеспечивающая погрешность измерения массы с точностью до 0.25 ppm.

ЯМР-спектрометр AVANCE II 600, Bruker, Германия

Год выпуска – 2007

Назначение

Исследование строения и свойств молекул и молекулярных систем, динамики внутри- и межмолекулярных обменных процессов, реакционной способности новых классов органических, элементорганических соединений и полимеров в растворах.

Технические характеристики

- Напряженность магнитного поля 14.1 Тесла.

- Рабочая частота на ¹Н – 600 МГц.

- Датчики: BBI широкополосный, инверсный с автоматической настройкой и Z-градиентом; 5 мм, диапазон частот от ¹⁰⁹Ag до ¹Н; Smartprobe с автоматической настройкой и Z-градиентом; 5 мм, диапазон частот от ¹⁰⁹Ag до ¹Н.

- Диапазон рабочих температур: от -80 °С до +100°С.

Метрологическое обеспечение

Свидетельство о поверке

- Внутренняя стабилизация рабочей частоты по сигналу дейтерия.

- Верификация по стандартным образцам:

¹H Sensitivity, 0.1% Ethylbenzene (EB) in Chloroform-d

¹³C Sensitivity 40% Dioxane in Benzene-d6 (ASTM).

- Регистрация контрольных спектров стандартных образцов не реже 1 раза в год.

- Регламентная поверка в сертифицированной организации

ЯМР-спектрометр AVANCE DRX 500, Bruker, Германия

Год выпуска – 2002

Назначение

Технические характеристики

- Напряженность магнитного поля 11.7 Тесла.

- Рабочая частота на ¹Н – 500 МГц.

- Диапазон рабочих температур: от -80 °С до +100°С.

Метрологическое обеспечение

Свидетельство о поверке

- Внутренняя стабилизация рабочей частоты по сигналу дейтерия.

- Верификация по стандартным образцам:

¹H Sensitivity, 0.1% Ethylbenzene (EB) in Chloroform-d

¹³C Sensitivity 40% Dioxane in Benzene-d6 (ASTM).

- Регистрация контрольных спектров стандартных образцов не реже 1 раза в год.

- Регламентная поверка в сертифицированной организации

ЯМР-спектрометр AVANCE III 400 WB, Bruker, Германия

Год выпуска – 2012

Назначение

Технические характеристики

- Напряженность магнитного поля 9.4 Тесла.

- Рабочая частота на ¹Н – 400 МГц.

- Датчики: BBFO широкополосный, инверсный с Z-градиентом, 5 мм, диапазон частот от ¹⁰⁹Ag до ¹Н; HR-MAS 4 мм, CP-MAS 4 мм, CP-MAS 2.5 мм; диффузионный датчик

Диапазон рабочих температур: от -80 °С до +100°С.

Метрологическое обеспечение

Свидетельство о поверке

- Внутренняя стабилизация рабочей частоты по сигналу дейтерия.

- Верификация по стандартным образцам:

¹H Sensitivity, 0.1% Ethylbenzene (EB) in Chloroform-d

¹³C Sensitivity 40% Dioxane in Benzene-d6 (ASTM).

- Регистрация контрольных спектров стандартных образцов не реже 1 раза в год.

- Регулярная поверка в сертифицированной организации

- Регламентная поверка в сертифицированной организации

ЯМР-спектрометр Fourier 300 HD, Bruker Corporation, Швейцария

Год выпуска – 2017

Назначение

Технические характеристики

- Напряженность магнитного поля 7.04 Тесла.

- Рабочая частота на ¹Н – 300 МГц.

- Датчик – двухканальный ¹Н/¹³С с автоматической настройкой, Z-градиентом и системой градиентного шиммирования, 5 мм.

- Диапазон рабочих температур от -80 °С до +100°С, точность +/-0.01ºC

Метрологическое обеспечение

- Внутренняя стабилизация рабочей частоты по сигналу дейтерия.

- Верификация по стандартным образцам:

¹H Sensitivity, 0.1% Ethylbenzene (EB) in Chloroform-d

¹³C Sensitivity 40% Dioxane in Benzene-d6 (ASTM).

- Регистрация контрольных спектров стандартных образцов не реже 1 раза в год.

ЯМР-спектрометр AVneo-300, Bruker, Швейцария

Год выпуска – 2019

Назначение

Исследование строения и свойств молекул и молекулярных систем, динамики внутри — и межмолекулярных обменных процессов, реакционной способности новых классов органических, элементорганических соединений и полимеров в растворах.

Технические характеристики

- Напряженность магнитного поля: 7.04 Тесла.

- Рабочая частота на ¹Н — 300 МГц.

- Датчик – ВВО широкополосный, 5 мм, диапазон частот от ¹⁰⁹Ag до¹Н с автоматической настройкой, Z-градиентом и системой градиентного шиммирования.

- Диапазон рабочих температур от -80 °С до +100°С, точность +/-0.01ºC.

- Автосэмплер на 16 образцов для регистрации спектров в автоматическом режиме.

Метрологическое обеспечение

- Внутренняя стабилизация рабочей частоты по сигналу дейтерия.

- Верификация по стандартным образцам:

¹H Sensitivity, 0.1% Ethylbenzene (EB) in Chloroform-d

¹³C Sensitivity 40% Dioxane in Benzene-d6 (ASTM).

- Регистрация контрольных спектров стандартных образцов не реже 1 раза в год.

Масс-спектрометрический времяпролётный комплекс высокого разрешения Maxis и MicroTOF II, Bruker Daltonic, Германия c жидкостным хроматографом Agilent 1200

Год выпуска – 2009

Назначение

Анализ и исследование веществ и смесей веществ методом масс-спектрометрии высокого разрешения с использованием ионизации электрораспылением или химической ионизации при атмосферном давлении.

Технические характеристики

- Регистрация масс-спектров с ионизацией электрораспылением или химической ионизацией при атмосферном давлении в диапазоне масс от m/z 50 до 1 000 000 с разрешением до 30 000.

- Тандемная масс-спектрометрия (диссоциация, активируемая соударениями), обращено-фазовая ВЭЖХ-МС.

Метрологическое обеспечение

- Свидетельство о поверке Maxis и MicrOTOF

- Калибровка прибора с использованием стандартных калибровочных растворов (Agilent technologies), обеспечивающая погрешность измерения массы с точностью до 0.5 ppm.

- Регламентная поверка в сертифицированной организации

Монокристальный дифрактометр Bruker D8 Quest, Bruker, Германия (дифрактометр) / США (программное обеспечение)

Год выпуска – 2019

Назначение

Исследование строения низкомолекулярных органических и металлоорганических веществ в кристалле.

Технические характеристики

- Рентгеновская трубка Siemens, керамическая KFF Mo-2K-90C w

- Длина волны: 0.71073 Å (Mo K_a-излучение)

- Максимальная разрешающая способность: 0.35 Å

- Монохроматор: графит

- Диаметр пучка: ~0.6мм (fine-focus)

- Детектор: Photon III 14 (140 мм × 100 мм, начало производства в 2019)

- Режим съёмки: беззатворный режим, φ- и ω-сканирования

- Система термостатирования кристалла: "Oxford Cryosystems CS800"

- Диапазон рабочих температур: от 80K до 400K (±1K)

- Программное обеспечение APEX-III (обновление февраль 2020)

Метрологическое обеспечение

- Ежеквартальная съёмка контрольного (тестового) кристалла для проверки допустимых отклонений.

Микроскоп электронный сканирующий SU8000, Hitachi, Япония

Год выпуска – 2010

Назначение

Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов).

Технические характеристики

- Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ; макс. увеличение 800000; разрешение 1 нм.

- Разрешение EDX детектора 129 эВ на линии Kα(Mn), скорость счета до 100000 имп/с.

Микроскоп электронный просвечивающий HT7700, Hitachi, Япония

Год выпуска — 2015

Назначение

Исследование микро- и нано-структуры мелкодисперсных порошков, тонких плёнок и срезов (толщиной менее 100 нм). Получение электронных дифракционных картин.

Технические характеристики

Ускоряющее напряжение 40-120 кВ; макс. увеличение 800000; разрешение 0,144 нм; приставка для исследования в сканирующем просвечивающем режиме (макс. увеличение 800000; разрешение 1,5 нм).

Микроскоп электронный сканирующий Regulus8230, Hitachi, Япония

Назначение

- Изучение поверхности токопроводящих образцов методом сканирующей электронной микроскопии с полевой эмиссией (FE-SEM);

- Изучение поверхности токонепроводящих образцов при небольшом напряжении и/или после напыления токопроводящего слоя углерода или металла;

- Определение элементного состава образцов;

- Автоматическая (zig-zag) съёмка участков поверхности;

- Элементное картирование образцов методом EDS/РСМА (безоконное), в том числе при большом увеличении (более 100 тыс. крат);

Прибор принадлежит новой линейке сканирующих электронных микроскопов, он сочетает в себе возможности предыдущих, добавляя к ним функциональность и простоту использования.

Технические характеристики

- Разрешение: 0,9 нм (напряжение 1кВ), 0,7 нм (напряжение 15кВ);

- Увеличение: 20 — 2 000 000 крат.;

- Ускоряющее напряжение: 0,5 – 30 кВ;

- Электронная пушка: Холодный катод с полевой эмиссией;

- Детекторы вторичных электронов: 3 детектора типа "сцинтиллятор — фотоумножитель" с возможностью микширования сигналов;

- Детектор обратно отражённых электронов (BSE) — детектор обратно отражённых электронов фотодиодного типа;

- STEM-детекторы: BF-STEM, DF-STEM;

- Анализ — Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр.